粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。在粒度測試過程中，有時會出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常的情況，如重復性不好、同一個樣品結果與之前有差異等。一般是由以下幾個原因造成：1．環(huán)境異常：粒度儀的使用環(huán)境應該滿足以下條件，一是室溫在10℃－30℃之間，并且介質溫度要與室溫相同或相近，若介質與室溫溫相差過大會導致樣品池結霧而影響測試結果。二是實驗臺要穩(wěn)固，周圍無振動源。振動會使儀器測試過程中光路發(fā)生變化，導致測試結果不穩(wěn)。三是電源電壓要穩(wěn)定且有良好的接地，電壓不穩(wěn)會影響儀器內部電路...

激光粒度分析儀采用偏振光強度差技術，利用多波長/偏振光的散射原理，能夠準確分析微小顆粒的分布。粒度不同的顆粒在六個角度對900nm、600nm、450nm波長的水平和垂直偏振光有明顯的強度差異和特征，以此形成的光強差曲線采用米氏理論計算亞微米顆粒粒度。激光粒度分析儀的分析軟件優(yōu)點：1、軟件設計模塊化，儀器狀態(tài)可視化，操作界面人性化。2、sop標準操作流程減少人為因素的影響，使分析測試流程標準化。3、多種數(shù)據(jù)分析模型，滿足不同特性樣品的測試需要。4、有導航功能的清晰、明了的流程...

X射線熒光光譜儀（XRF）具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。X射線熒光光譜儀由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生發(fā)射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素都會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后...

納米粒度儀使用與HELOS系統(tǒng)相同的光學元件，以確保高精度的測試結果;測試結果信號再次饋入控制系統(tǒng)，以實現(xiàn)閉環(huán)控制。納米粒度儀使用靜態(tài)光散射（SLS）技術測量蛋白質與聚合物的分子量。靜態(tài)光散射是一種非侵入技術，用于表征溶液中的分子。與動態(tài)光散射工作方式類似，當激光照射樣品中的粒子時，粒子在各個方向上發(fā)生散射。但與動態(tài)光散射技術不同，靜態(tài)光散射技術是測量一段時間內散射光的時間平均強度。因這個時間平均光強不能反應信號隨時間的動態(tài)變化，故稱為“靜態(tài)光散射”。篩分分析有兩種方法：干法...

關于ITC技術的問與答1、N值是不是一般都是1左右？N值是一個很大的負值是否正常？答：ITC中的N值表示化學計量比，它取決于分子相互作用自身的性質。1:1結合的相互作用一般較多，所以多數(shù)分子互作的N值都是1，關于這類結合的研究也比較透徹。但是，當?shù)鞍咨虾袃蓚€結合位點，或者蛋白由多個相同亞基組成時，N值可能更高。當N值遠小于1，多數(shù)情況下反映出被滴定物的活性濃度（活性構象等）遠低于100%。N值為負值不正常。2、參比池放純水、緩沖會對實驗結果有不同影響嗎？答：在ITC實驗中，...